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All-Optical dc Nanotesla Magnetometry Using Silicon Vacancy Fine Structure in Isotopically Purified Silicon Carbide
作者：Simin D; Soltamov V A; Poshakinskiy A V; Anisimov A N; Babunts R A; Tolmachev D O; Mokhov E N; Trupke M; Tarasenko S A; Sperlich A; Baranov P G; Dyakonov V; Astakhov G V
来源：
Physical Review X
, 2016, 6(3): 031014.
DOI：10.1103/PhysRevX.6.031014
出版日期
2016-7-28
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