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A study on minority carrier diffusion length of semiconductor with constant measure of surface photovoltage
作者:He Xuan
*
; Chen Changying; Deng Wei; Zhang Hao
来源:
2012 International Symposium on Photonics and Optoelectronics, SOPO 2012
, 2012-05-21 to 2012-05-23.
DOI:10.1109/SOPO.2012.6270463
CMSPV method
Lock-in
Minority carrier diffusion length
Minority carrier lifetimes
Optical absorption coefficients
Quality of silicons
Surface photovoltages
出版日期
2012
单位
暨南大学
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