电子快门与CCD图像传感器抗晕的研究

作者：武利翻

来源：电子科技, 2010, (08): 18-19+24.

DOI：10.16180/j.cnki.issn1007-7820.2010.08.040

• CCD
• 光晕
• 抗晕
• 器件仿真 CCD
• blooming
• anti-blooming
• device simulation

为了抑制CCD图像传感器在强光照射时出现光晕和弥散现象,运用半导体器件数值模拟软件MEDICI,对建立的纵向抗晕CCD器件模拟结构进行数值计算,并分析1 PW层硼掺杂浓度参数对CCD纵向抗晕能力的影响,并对CCD纵向抗晕结构进行优化结构。而电子快门就是利用纵向抗晕的工作原理而发展的。

• 出版日期2010
• 单位西安邮电大学