SOC芯片设计与测试

作者：谈颖莉; 戎蒙恬

来源：半导体技术, 2004, (06): 64-67+75.

DOI：10.13290/j.cnki.bdtjs.2004.06.022

• 单芯片系统
• 面向测试设计
• 面向制造设计
• 位失效图
• 自动测试设备 SOC
• DFT(design-for-test)
• BFM(bit fail map)
• DFM(design-for-manufacturability
• ATE(automatic test equipment)

SOC已经成为集成电路设计的主流。SOC测试变得越来越复杂,在设计时必须考虑DFT和DFM。本文以一SOC单芯片系统为例,在其设计、测试和可制造性等方面进行研究,并详细介绍了SOC测试解决方案及设计考虑。

• 出版日期2004
• 单位上海交通大学