低温双极晶体管的低温1／f噪声

作者：李树荣郭维蒹郑云光严隽达

来源：天津大学学报, 1994, (04): 507-511.

• 低温晶体管
• 1／f噪声
• 冻析效应 low-temperature transistor
• 1/f noise
• freezeout effect

对自行研制的低温晶体管于液氮温度下进行了低频噪声测量，结果表明：与室温相比１／ｆ噪声显著增大．根据１／ｆ噪声理论，并参照器件室温和低温下ＩＢ～ＶＢＥ曲线的不同，认为在低温下ＥＢ结正向压降增大和载流子的冻折效应是使该器件１／ｆ噪声等效输入电流功率谱密度变大的主要原因．

• 出版日期1994
• 单位中国电子科技集团公司第十一研究所