摘要

通过理化检验和模拟试验对混合电路键合失效的原因进行了分析。结果表明:电路在生产和制造过程中,由于沾污和水气导致铝腐蚀。并针对故障现象和原因,阐述了铝腐蚀失效的机理,给出了控制电路沾污和水气的措施。

  • 出版日期2011
  • 单位中国空空导弹研究院