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摘要
基于莫尔效应,本文提出了一种利用白光面光源进行双编码栅反向投影,以等位线条纹的形式测量物体相位变化的新方法.详细分析了编码栅函数与等位线类型或背景条纹之间的关系,讨论了离焦效应和结构参数选择,最后给出了实验结果以及可能的应用,显然在许多情况下具有为光学干涉法所没有的独特优点.
- 出版日期1984
- 单位中国科学院上海光学精密机械研究所
基于莫尔效应,本文提出了一种利用白光面光源进行双编码栅反向投影,以等位线条纹的形式测量物体相位变化的新方法.详细分析了编码栅函数与等位线类型或背景条纹之间的关系,讨论了离焦效应和结构参数选择,最后给出了实验结果以及可能的应用,显然在许多情况下具有为光学干涉法所没有的独特优点.
