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摘要
针对大口径光学元件表面疵病检测中子孔径图像数量较多,在全孔径拼接过程中存储及处理数据量大的问题，提出了一种基于子孔径特征数据集的光学表面疵病拼接方法。该方法由子孔径图像及其重叠区域图像中提取疵病特征数据构建子孔径特征数据集，并通过特征数据集实现子孔径相对位置关系确定及全孔径疵病拼接。通过实验验证，本文方法可以有效实现全孔径疵病目标拼接，并且与基于模板匹配法的全孔径图像拼接方法相比，两种方法获得的全孔径疵病图像的疵病检测结果基本一致，而本文方法在拼接过程中处理的子孔径特征数据集的数据量为3.26MB，获得的全孔径疵病数据转换出的全孔径疵病图像的数据量为20.9KB，有效降低了全孔径拼接过程中的处理及存储数据量。
- 出版日期2023
- 单位西安工业大学
