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摘要
微棱镜反光膜内部角锥结构的角度精度是影响反光材料反光强度变化的主要因素,目前国内微棱镜反光膜生产商主要采用常规共聚焦显微镜图像识别的方法测量微棱镜的角度误差,但此方法检测效率过低,很难达到实际的测量需求。为有效克服上述检测方法的缺点,建立了微棱镜角度误差光学测量的数学模型,并提出了一套基于自准直仪的光学测量系统。在测量实验前对测量装置进行灵敏度标定实验与稳定性测量实验,实验数据表明该测量系统精度较高,可用于微棱镜角度误差的测量。最后利用该测量系统可快速实现对微棱镜反光阵列角度误差的测量,试验表明,相比于常规共聚焦显微镜图像识别的测量方法,本测量系统测量效率更高,可以满足实际生产中的测量要求。
- 出版日期2021
- 单位大连理工大学
