摘要

本发明提供一种AMOLED显示面板线缺陷的修复结构及修复方法,通过将修复线路中的导电薄膜(410)对应层叠覆盖于AMOLED显示面板检测线路中的测试TFT(310)上方并与测试TFT(310)绝缘,将修复线路中的修复导线(420)与AMOLED显示面板检测线路中所有的信号扇出线(200)、及对应的测试线(330)绝缘交叉,实现了将修复线路直接嫁接在AMOLED显示面板检测线路上,能够利用现有的AMOLED显示面板检测线路布局,既引入了修复线路具有修复功能,又节省布局空间,且对控制IC没有额外要求,尤其适用于小尺寸、高解析度的AMOLED显示面板的线缺陷修复。

  • 出版日期2016
  • 单位深圳市华星光电技术有限公司