OCXO老化测试系统设计

作者：赵斌

来源：电子制作, 2022, 30(22): 80-82.

DOI：10.16589/j.cnki.cn11-3571/tn.2022.22.025

• OCXO
• 老化率
• MCU
• 测试系统

本文提出一种恒温晶体振荡器（Oven Controlled Crystal Oscillator，简称OCXO）老化测试系统，对系统的结构功能、软件实现与硬件设计进行阐述。老化测试系统现已落地并应用于OCXO的生产测试工作中，性能稳定，运行可靠，为OCXO的规模化生产与测试工作提供保障与支持。

• 出版日期2022