纳米Cu固体材料微结构的正电子湮没研究

作者:章婷; 邱诚; 张宏俊; 戴益群; 陈志权; 张洪亮; 雷海乐
来源:武汉大学学报(理学版), 2010, (06): 627-631.
DOI:10.14188/j.1671-8836.2010.06.005

摘要

纳米材料的性能不仅与纳米晶粒本身的结构有关,而且与纳米晶体之间界面的微观结构有关.纳米粉在压实成纳米块过程中很难消除微孔洞,并且在压实过程中也会给晶粒引入结构缺陷.本文用正电子湮没谱学研究了纳米Cu固体材料微结构,发现在两种不同条件下压制成型的纳米Cu固体内部的晶粒界面均存在着单空位及空位团等缺陷.空位团的大小随着压制压力的增加而略有减小.通过退火实验发现纳米Cu固体的界面缺陷具有较好的热稳定性.即使在900℃高温下退火也只能使部分缺陷得到恢复,但是低压力下压制的样品中的缺陷恢复需要更高的温度.

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