铝电解质分子比是铝电解生产中的一项重要指标,本文用X射线荧光光谱法测定电解质中各化合物的浓度,达到计算分子比的目的。将研磨到一定粒度的样品在300kN的压力下压成圆片,然后在优化的条件下进行测定。采用电解质标样建立校准曲线,物理和化学影响采用数学方法校正,通过应用软件中的函数计算功能,根据测定元素的浓度自动计算分子比。该方法已用于多元铝电解质分子比的测定,测定结果与X射线衍射法相符。对同一样品进行14次平行测定,所得到的相对标准偏差为0.48%。
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