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摘要
时延测试对于高速集成电路非常重要．本文介绍一个带时间参数的时延测试产生系统．该系统使用一个时刻逻辑值表来表示一个波形，并将输入波形限制为只有唯一的一个输入在0时刻有跳变，其它输入为稳定的0或1，从而实现了波形敏化条件下的时延测试产生．与以往的不考虑时间因素的时延测试产生系统相比，带时间参数的测试产生提高了故障覆盖率，并且更接近于电路的实际．
- 出版日期1999
- 单位中国科学院计算技术研究所
时延测试对于高速集成电路非常重要．本文介绍一个带时间参数的时延测试产生系统．该系统使用一个时刻逻辑值表来表示一个波形，并将输入波形限制为只有唯一的一个输入在0时刻有跳变，其它输入为稳定的0或1，从而实现了波形敏化条件下的时延测试产生．与以往的不考虑时间因素的时延测试产生系统相比，带时间参数的测试产生提高了故障覆盖率，并且更接近于电路的实际．
