贮氢钛膜氢含量的中子反射分析方法设计

作者：黄朝强; 陈波; 李新喜; 王燕; 宋建明

来源：原子与分子物理学报, 2008, (05): 1017-1022.

• Ti膜
• 吸氘
• 表面氧化
• 中子反射 Ti film
• hydrogen storage
• surface oxidation
• neutron reflectometry

对3μm厚Ti膜的中子反射率谱进行理论计算,得到了Ti膜在不同含氘量(TiDc,c=0.5、1.0、1.5和2.0)、表面是否氧化下的反射率谱.数据表明,用中子反射技术可以获取含氘量和表面氧化程度等信息.同时,根据需测量的膜层最大厚度,对反射谱仪部分参数提出了要求.

• 出版日期2008
• 单位中国工程物理研究院核物理与化学研究所