考虑测试功耗的扫描链划分新方法

作者：王冠军; 赵莹; 王茂励

来源：微电子学与计算机, 2010, (01): 144-146+150.

DOI：10.19304/j.cnki.issn1000-7180.2010.01.038

• 基于扫描设计
• 扫描链
• 测试功耗
• 兼容扫描单元 scan based design
• scan chain
• test power
• compatible scan cell

提出考虑测试功耗的扫描链划分新方法.首先为基于扫描设计电路的峰值测试功耗和平均功耗建模,得出测试功耗主要由内部节点的翻转引起的结论,因此考虑多条扫描链情况,从输入测试集中寻找相容测试单元,利用扫描单元的兼容性,并考虑布局信息,将其分配到不同的扫描链中共享测试输入向量,多扫描链的划分应用图论方法.在ISCAS89平台上的实验结果表明,有效降低了峰值测试功耗和平均测试功耗.

• 出版日期2010
• 单位中国矿业大学; 中国矿业大学（北京）; 山东省计算中心