摘要

针对光轴平行晶体表面时的锥光干涉图,提出了计算干涉场中振幅和相位分布的方法,据此绘制完整的干涉图,方便地显示出晶体参数改变时锥光干涉图的变化规律.用CCD摄像机拍摄了铌酸锂晶体的锥光干涉图,结果与理论完全一致.