混合信号SoC联合测试方案

作者：杨舟; 王红; 杨士元

来源：清华大学学报(自然科学版), 2011, S1: 1381-1387.

DOI：10.16511/j.cnki.qhdxxb.2011.s1.003

• 片上系统(SoC)
• 模拟核
• 数模转换器(DAC)
• 模数转换器(ADC)
• 振荡测试
• 脉宽测试
• 联合测试 system on chip(SoC)
• analog core
• digital-to-analog converter(DAC)
• analog-to-digital converter(ADC)
• oscillation test
• histogram test
• pulse width test

混合信号片上系统(SoC)模拟核的测试是SoC测试的难点之一,常用片上数模转换器(DAC)、模数转换器(ADC)配合模拟核进行测试。本文对于片上DAC、模拟核、ADC同时待测的情况,基于模拟核的振荡测试、ADC柱状图测试和DAC脉宽测试等方法,提出联合测试方案。将重构模拟核产生的三角波振荡信号,分别作为ADC柱状图测试和DAC脉宽测试的激励,并引入ADC和DAC的直连测试作为补充,构建三者两两之间的联合测试。该方案在对电路进行少量重构的条件下,自生成并复用测试激励,可实现对单故障的定位并解决双故障掩盖问题。

• 出版日期2011
• 单位清华大学