单/双跳变向量插入式低功耗BIST设计方法

作者：谈恩民; 宋胜东; 施文康

来源：微电子学与计算机, 2007, (08): 183-185.

DOI：10.19304/j.cnki.issn1000-7180.2007.08.054

• 内建自测试
• 低功耗
• 线性反馈移位寄存器 BIST
• low power consumption
• LFSR

提出了一种在不损失固定型故障覆盖率的前提下降低测试功耗的内建自测试BIST(built-in self-test)设计方法,该方法在原始线性反馈移位寄存器LFSR(linear feedback shift register)的基础上加入若干逻辑,使测试向量每周期最多产生两次跳变,因而大大降低了被测电路CUT(circuit under test)的功耗。通过对组合电路集ISCAS’85的实验证明,被测电路的总功耗、平均功耗以及峰值功耗都有大幅度的降低。

• 出版日期2007
• 单位上海交通大学; 桂林电子科技大学