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Nanoscale Distortions of Si Quantum Wells in Si/SiGe Quantum-Electronic Heterostructures
作者:Evans P G
*
; Savage D E; Prance J R; Simmons C B; Lagally M G; Coppersmith S N; Eriksson M A; Schuelli T U
来源:
Advanced Materials
, 2012, 24(38): 5217-5221.
DOI:10.1002/adma.201201833
Si
SiGe strained quantum wells
synchrotron X-ray nanodiffraction
structural distortions
thickness and strain variations
出版日期
2012-10-2
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