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摘要
针对传统微观织构测试技术(SEM-EBSD)无法测量大塑性变形样品或纳米晶粒尺度样品微观织构的技术缺点,本发明提供一种基于透射电子显微镜(TEM)的晶体微观织构取向的获取装置与获取方法,所述获取装置由样品切割设备、样品夹持设备、图像采集设备、角度采集设备和计算机组成；所述获取方法能够最终计算获得所测区域的微观织构欧拉角度(φ-1,Ф,φ-2)。有益的技术效果：本发明可获得测定区域的微观织构,并且可以针对任何大塑性变形样品及纳米尺度样品,能够克服传统扫描电镜背散射衍射技术空间分辨率有限和大应变量样品标定率低的问题。
- 出版日期2019-7-11
- 单位合肥工业大学
