一种基于BIST结构和自振荡环的电路老化测试方法

摘要

本发明公开了一种基于BIST结构和自振荡环的电路老化测试方法，包括：1、根据静态时序分析、强相关性和扇出过滤方法选择出代表性的关键路径集；2、针对每条代表性关键路径上的“逻辑门”进行分析，将第一个门替换为同类型的且增加一个输入引脚的门，在所增加的引脚上连接旁路多选器将代表性关键路径连接成环路，并确定每个“逻辑门”的非控制引脚值，以配置为自振荡环；3、利用固定型故障测试向量生成方法生成老化测试向量，敏化关键路径；4、敏化关键路径后，禁止系统时钟，使用片外定时器设定振荡时间，同时控制自振荡环开始振荡；5、基于BIST结构设计异步计数器，并计算电路延时，评估电路老化程度。

关键词