一种基于BIST结构和自振荡环的电路老化测试方法

作者：梁**; 马俊祥; 肖远; 李丹青; 蒋翠云; 易茂祥; 鲁迎春; 黄正峰

来源：2021-06-25, 中国, ZL202110709822.7.

本发明公开了一种基于BIST结构和自振荡环的电路老化测试方法,包括：1、根据静态时序分析、强相关性和扇出过滤方法选择出代表性的关键路径集；2、针对每条代表性关键路径上的“逻辑门”进行分析,将第一个门替换为同类型的且增加一个输入引脚的门,在所增加的引脚上连接旁路多选器将代表性关键路径连接成环路,并确定每个“逻辑门”的非控制引脚值,以配置为自振荡环；3、利用固定型故障测试向量生成方法生成老化测试向量,敏化关键路径；4、敏化关键路径后,禁止系统时钟,使用片外定时器设定振荡时间,同时控制自振荡环开始振荡；5、基于BIST结构设计异步计数器,并计算电路延时,评估电路老化程度。

• 出版日期2021-6-25
• 单位合肥工业大学