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摘要
键盘的寿命测试是一个重复性、机械性的工作,每个被检测的按键次数都在百万次以上,由人工测试几乎是不可能的,且人工测试一致性差,误差大,然而,键盘的性能和使用寿命是一项必须测试的指标,按键测试系统就能很好地解决这个问题。 在分析和比较国内外按键测试系统的基础上,结合具体的工程应用背景,分析按键测试系统的功能和性能需求,本课题采用嵌入μC/OS_Ⅱ操作系统的ARM7数据采集卡和基于LabVIEW开发的测控软件组成一个完整的按键测控系统。下位机系统采用Philips公司的ARM7芯片LPC2131为主控制器,运用模糊PID算法对伺服电机进行准确控制,选用具有24位分辨率的AD转换...
- 出版日期2009-12-20
