登录
免费注册
首页
论文
论文详情
赞
收藏
引用
分享
科研之友
微信
新浪微博
Facebook
分享链接
Adatom on Graphene, Directly Imaged by Aberration Corrected TEM at 300kV
作者：Tanaka T
*
; Abe Y; Sawada H; Okunishi E; Kondo Y; Tanishiro Y; Takayanagi K
来源：
Microscopy and Microanalysis
.
DOI：10.1017/S1431927609097876
出版日期
2009-7
全文
全文
访问全文
相似论文
引用论文
参考文献
科研之友
微信
新浪微博
Facebook
分享链接
