多层微带线S参量模拟研究

作者:张金玲; 杨金生
来源:真空电子技术, 2005, (03): 7-8+12.
DOI:10.16540/j.cnki.cn11-2485/tn.2005.03.002

摘要

利用CST Microwavestudio对多层微带线的S参量进行了仿真模拟,以微带线的线条宽度为参量考察了微带线的传输及反射特性,并对模拟结果进行了分析。

全文