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Microstructural, chemical states and electrical properties of Au/CuO/n-InP heterojunction with a cupric oxide interlayer
作者：Balaram N; Reddy V Rajagopal; Reddy P R Sekhar; Janardhanam V; Choi Chel Jong
来源：
Vacuum
, 2018, 152: 15-24.
DOI：10.1016/j.vacuum.2018.02.041
出版日期
2018-6
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