摘要

为了提高辐射电磁干扰(EMI,electromagnetic interference)的测量效率、测量精度和测量尺度,设计了一种改进的电小环探头,用来构建EMI近场测量的电小环探头阵列。通过改变高度、距离及功率参数,构建了双信号的同频干扰、带内干扰的开放近场测量环境。实际测量数据直观显示了被测全向天线和定向天线的E面和H面辐射EMI分布,重构了辐射信号空间分布状态,描述了同频干扰、不同干扰距离、不同干扰功率和带内干扰条件下的辐射干扰状态,对比了不同条件下的干扰变化趋势。研究发现,干扰距离越近,干扰功率越大,辐射干扰强度越大;同频干扰对干扰状态的影响大于带内干扰。本近场测量探头阵列可以实现对辐射干扰及干扰模式的判断,具有比较广泛的工程应用价值。