薄膜厚度对三元混晶四层系统的表面和界面声子极化激元的影响

作者：包锦; 闫翠玲; 闫祖威

来源：内蒙古大学学报(自然科学版), 2015, 46(06): 590-594.

DOI：10.13484/j.nmgdxxbzk.20150606

• 表面和界面声子极化激元
• 四层系统
• 三元混晶

运用改进的无规元素等位移模型和玻恩-黄近似,结合电磁场的麦克斯韦方程和边界条件,研究了薄膜厚度对真空/极性二元晶体薄膜/极性三元混晶薄膜/半无限大极性二元半导体衬底构成的四层异质结系统的表面和界面声子极化激元的影响,以GaAs/Al0.4Ga0.6As四层异质结系统为例,获得了表面和界面声子极化激元模的频率随薄膜厚度的变化关系.结果表明:三元混晶四层异质结系统中存在七支表面和界面声子极化激元模,且当薄膜厚度发生变化时,只对位于其表面或界面处的极化激元模有影响,对其余的极化激元模几乎没有任何影响.

• 出版日期2015
• 单位内蒙古农业大学