电子能量损失谱研究钛硅分子筛中钛的存在状态

作者：郑爱国; 向彦娟; 朱斌; 张进; 林民; 徐广通

来源：石油学报(石油加工), 2012, (06): 991-994.

• 钛硅分子筛(TS-1)
• 电子能量损失谱(EELS)
• 透射电子显微技术(TEM)
• X射线能谱技术(EDX) titanium silicalites zeolite(TS-1)
• electron energy loss spectroscopy(EELS)
• transmission electron microscopy(TEM)
• X-ray energy dispersive spectroscopy(EDX)

利用透射电子显微技术(TEM)、X射线能谱技术(EDX)以及电子能量损失谱技术(EELS)对Ti原子是否进入到TS-1钛硅分子筛骨架进行了研究。结果表明,TS-1钛硅分子筛中存在的微量TiO2粒子的EELS信号中O-K边与Ti-L2边的能量差为70eV左右;而钛硅分子筛(TS)粒子的EELS信号中O-K边与Ti-L2边的能量差为79eV左右。对比TiO2、TS粒子的EELS,发现TS粒子的Ti-L2、Ti-L3边与TiO2粒子的Ti-L2、Ti-L3边的能量差为1eV,这种能量差异可以作为Ti原子进入TS-1钛硅分子筛骨架的一种证明。

• 出版日期2012
• 单位中国石油化工股份有限公司石油化工科学研究院