小单元漂移室模拟老化实验中老化率与放射源强度的相关

作者：沈洪涛; 陈昌; 陈元柏; 朱启明; 金艳; 刘荣光; 马骁妍; 王岚; 阮向东; 王祥高; 徐美杭

来源：核电子学与探测技术, 2007, (02): 359-362+375.

• 小单元漂移室
• 放射源强度
• 老化率
• 阳极丝电流
• 光电峰位 small cell drift chamber
• radiation intensity
• aging rate
• anode current
• full energy photoelectron peak

在小单元漂移室多次模拟老化实验中,观察到测量所得的老化率与辐照放射源强度的相关,讨论了产生此种相关的可能原因。

• 出版日期2007
• 单位中国科学院高能物理研究所; 广西大学