终止电压对MB8镁合金微弧氧化膜耐蚀性的影响

作者：赵晴; 章志友; 陈宁

来源：表面技术, 2007, (04): 4-6.

DOI：10.16490/j.cnki.issn.1001-3660.2007.04.018

• 微弧氧化
• 镁合金
• 耐蚀性
• 终止电压

采用SEM、XRD、动电位极化曲线及电化学阻抗等测试方法,研究了MB8镁合金微弧氧化过程中不同终止电压下获得的陶瓷膜层的耐蚀性能。结果表明:终止电压越高,膜层越厚;微火花阶段,膜层表面均匀、结晶细致,腐蚀电流密度较小,阻抗较大;弧放电阶段,膜层孔径变大,陶瓷层内显微缺陷增多,腐蚀电流密度增大,阻抗减小。由此得出结论:膜层耐蚀性能由膜层厚度与终止电压共同决定,微火花放电末期膜层的耐蚀性能优于弧放电阶段的耐蚀性能。

• 出版日期2007
• 单位南昌航空工业学院