摘要

采用直流电弧放电法,以Al和Sm2O3的混合粉体与氮气直接反应,成功制备出Sm2+掺杂AlN纳米线。通过X射线衍射(XRD)、拉曼光谱(Raman)、X射线光电子能谱(XPS)、能量色散光谱仪(EDS)、扫描电子显微镜(SEM)、透射电子显微镜(TEM)对纳米线的组成和形貌进行了分析。结果显示,纳米线的直径为50~200 nm, Sm2+离子以二价形式成功掺入AlN晶格而不改变AlN晶格结构。Sm2+掺杂AlN纳米线表现出与Sm2+离子4f能级的跃迁相对应的发射峰和室温铁磁性,表明其在光电子和自旋电子微/纳米器件领域具有潜在的应用价值。

  • 出版日期2023
  • 单位辽宁地质工程职业学院

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