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A fault diagnosis approach of analog circuit using wavelet-based fractal analysis and kernel LDA
作者:Xiao, Yingqun; Feng, Lianggui; He, Yigang
来源:
Transactions of China Electrotechnical Society
, 2012, 27(8): 230-238.
Diagnostic approach
Essential features
Fault response
Kernel LDA
Kernel linear discriminant analyses (KLDA)
Neural network classifier
Neural network fault diagnosis
Wavelet-based fractal analysis
出版日期
2012
单位
合肥工业大学
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