ATO包覆TiO_2粉体的包覆机理研究

作者:彭光怀; 张小联; 邱承洲
来源:赣南师范学院学报, 2007, (06): 48-51.
DOI:10.13698/j.cnki.cn36-1037/c.2007.06.020

摘要

采用Zeta电位测定手段研究了ATO(Sb掺杂SnO2)包覆TiO2粉体的包覆机理,用XRD、TEM、XPS和LCR数字电桥等对包覆粉体的物相、形态、表面元素组成及其导电性能测试分析加以佐证,并建立了相应的包覆模型.结果表明,ATO包覆TiO2粉体的机理是色散吸引力和粒子间的静电力共同作用的结果,当pH=2时ATO与TiO2与Zeta电位产生的协同静电作用最佳,与XRD、TEM、XPS和LCR数字电桥等实验分析的结果相一致,由包覆模型计算的单层最大包覆量15%的结论与试验的包覆粉体电阻率转折临界点吻合.

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