D_s介子几个重要衰变分支比的绝对测量

作者：张长春; 李卫国; 毛慧顺; 顾建辉; 李小南; 荣刚

来源：中国物理C, 2000, (06): 593-608.

• D_s衰变分支比
• Ds单标记和双标记
• 绝对测量 branching fraction of D s decay
• D_s single and double tagging
• absolute measurement

在正负电子对撞能量 4 0 3GeV处 ,BES实验在BEPC对撞机上完成了Ds 介子纯轻子衰变 ,半轻子衰变和φπ+ 分支比的绝对测量 .文章详细描述了用于π与K识别的联合置信度方法 ,Ds单标记和双标记技术 ,以及计算Ds 衰变分支比的最大似然函数 .对所得物理结果做了讨论和评述 .对未来Ds物理改进测量做了展望

• 出版日期2000
• 单位中国科学院高能物理研究所