浅析161例高热惊厥患者的脑电图

作者:周炎
来源:神经病学与神经康复学杂志, 2006, 3(04): 222-226.
DOI:10.3969/j.issn.1672-7061.2006.04.011

摘要

目的探讨高热惊厥对脑电图的影响。方法对161列高热惊厥患者的脑电图和相关资料进行回顾分析。将161例高热惊厥患者按不同年龄分为三组:A 组(2~4岁),B 组(5~7岁),C 组(8~9岁),并将三组的脑电图结果进行比较。结果退热一周后:①脑电图总异常率为47.2%(其中轻度异常21.1%,癎样改变26.1%)。②A组(2~4岁)的脑电图异常率52.1%和 C 组(8~9岁)的脑电图异常率91.6%,呈明显增高。退热一个月后:①有18例轻度异常的脑电图恢复到正常水平,其余的均无明显变化。②脑电图的异常率与不同的热惊年龄、不同的热惊阈值、首次热惊发作和多次热惊发作有关。③A组(2~4岁)的热惊低阈值率和热惊复发率分别为66.3%和86.6%,是三组中最高的。结论高热惊厥的发作可导致脑损伤,脑电图检查对高热惊厥的脑损伤和预后的判断是一个很有用的监测。

  • 出版日期2006
  • 单位上海交通大学医学院附属仁济医院

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