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A hybrid prognostics approach for MEMS: From real measurements to remaining useful life estimation
作者：Skima H; Medjaher K; Varnier C; Dedu E; Bourgeois J
来源：
Microelectronics Reliability
, 2016, 65: 79-88.
DOI：10.1016/j.microrel.2016.07.142
出版日期
2016-10
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