在１００ ～３００Ｋ温度范围内测量了Ｈｇ１２１２ 相块材和薄膜样品的正常态的１／ｆ 噪声，结果显示高质量薄膜的噪声水平为１０４ 量级，已和ＹＢＣＯ 外延膜及单晶相近．还测量了ＰｒＢａ２Ｃｕ３Ｏ７ － δ（ＰｒＢＣＯ） 微桥样品１／ｆ 噪声的尺寸依赖性，发现在ａｂ 面上，存在着与涨落相关的特征尺度，约为１０２μｍ 的量级．样品宽度降到该尺寸以下时，噪声水平急剧下降．在两个体系中，实验结果均和ＤｕｔｔａＨｏｒｎ 热激活模型进行了比较．
科研之友
微信
新浪微博
Facebook
分享链接
