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摘要
基于第三代同步辐射光源,在20 ke V的入射X射线能量下测量了NO与C2H2分子的康普顿轮廓.考虑到本次实验结果在pz≈0附近的统计精度达到了0.2%,本文报道的NO和C2H2的康普顿轮廓可以作为严格检验理论的实验基准.除此之外,还分别采用HF方法及密度泛函方法选用不同的基组计算了NO与C2H2康普顿轮廓.通过对比实验结果与理论计算,发现对于NO分子,加入弥散函数基组理论计算结果与实验符合更好,说明NO分子基态的电子分布较为弥散.对于C2H2分子,HF方法理论计算的结果与实验符合较好.
- 出版日期2015
- 单位中国科学院上海应用物理研究所; 合肥微尺度物质科学国家实验室
