摘要

采用胶体晶体模板技术和磁控溅射工艺,通过调制溅射功率,制备了一系列不同形貌的Ag反点阵列修饰TiO2复合薄膜.通过扫描电子显微镜(SEM),X射线衍射(XRD),紫外-可见分光光度计(UV-Vis)和四探针测试仪等手段对样品的结构和光催化性能进行了表征.实验结果表明:Ag反点阵列的形貌对样品光催化性能有显著影响.随着反点孔径的减小,其导电性能迅速提升,样品的光催化性能逐渐增强.孔径为710nm时,复合薄膜的光催化性能达到最高.随后,继续减小孔径,样品的光催化性能出现了一定程度的下降,这是载流子损耗增多和遮光面积增大引起的.经Ag反点阵列修饰的样品的光催化性能均明显优于TiO2薄膜,主要是由于反...