碲化物薄膜的附着牢固度与其显微结构的关系

作者：张素英; 范滨; 程实平; 凌洁华; 周诗瑶; 王葛亚; 施天生

来源：红外与毫米波学报, 1999, (04): 73-77.

• 碲化物
• 薄膜
• 显微结构
• 附着牢固度 telluride
• film
• microstructure
• adhesion.

用Ｘ射线衍射（ＸＲＤ）和透射电镜术（ＴＥＭ）观察Ｓｉ和Ｇｅ基板上ＰｂＴｅ、ＣｄＴｅ及ＰｂＧｅＴｅ单层薄膜及其与ＺｎＳ组合的多层薄膜的显微结构，给出了薄膜附着牢固度与薄膜显微结构的关系

• 出版日期1999
• 单位中国科学院上海冶金研究所; 上海师范大学; 中国科学院上海技术物理研究所