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摘要
目前由于非均匀性技术的限制，红外焦平面阵列具有条纹非均匀性，这种非均匀性一般是一种固定的模式噪声，它会在原有非均匀性的基础上随着时间和温度的变化而变化。传统的残差计算忽略了非均匀性的特点，场景细节的变化会被误认为非均匀性而被过滤掉。提出了一种基于场景的条纹非均匀性校正算法。该方法采用非线性滤波的方法滤除单柱图像的非均匀性，并计算与原始图像的实际残差，然后利用前一帧的预测残差和实际残差得到当前残差。最后，根据场景鬼影抑制参数自适应校正计算增益系数和偏置系数。实验结果表明，提出的算法在200帧测试图像中滤除了61.3%的非均匀性，与其他自适应校正算法相比，非均匀性校正效果更明显，并且在一定程度上有效地保护了图像边缘，收敛速度快，质量高，能有效去除列条纹和非均匀随机噪声。
- 出版日期2023
- 单位长春理工大学
