电解液体系对ZrH_(1.8)表面微弧氧化陶瓷层的影响

作者：闫淑芳; 刘向东; 陈伟东; 王志刚; 范秀娟; 徐志高

来源：稀有金属, 2014, (04): 646-652.

DOI：10.13373/j.cnki.cjrm.2014.04.017

• 氢化锆
• 微弧氧化
• 陶瓷层
• 电解液体系 zirconium hydride
• micro-arc oxidation
• oxide layer
• electrolyte system

采用恒压模式分别在Na2SiO3,Na5P3O10和Na5P3O10+H2O2电解液体系下对ZrH1.8表面进行微弧氧化(MAO),利用扫描电子显微镜(SEM)、X射线衍射仪(XRD)、膜层测厚仪测试了陶瓷层的表面形貌、截面形貌、相结构及陶瓷层厚度,通过真空脱氢实验评估了陶瓷层的阻氢性能。研究结果表明:采用微弧氧化技术在氢化锆表面可以制得厚度范围在35~60μm的微弧氧化陶瓷层。不同的电解液体系下在氢化锆表面得到的微弧氧化陶瓷层的厚度不同,Na2SiO3电解液体系下得到的陶瓷层最厚,Na5P3O10+H2O2电解液体系次之,Na5P3O10电解液体系最薄。氢化锆表面微弧氧化陶瓷层由致密层和疏松...

• 出版日期2014
• 单位内蒙古工业大学; 武汉工程大学; 北京有色金属研究总院