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Atomic Force Microscopy for Imaging, Identification and Manipulation of Single Atoms
作者：Sugimoto Yoshiaki
来源：
e-Journal of Surface Science and Nanotechnology
, 2016, 14(0): 28-34.
DOI：10.1380/ejssnt.2016.28
出版日期
2016-2-13
单位
The University of Tokyo; university of tokyo
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