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摘要
相位解包裹是相位测量轮廓术中数据处理的关键之处。文中在传统的Goldstein枝切法基础上提出了一种质量引导的枝切法相位解包裹算法，旨在获得更加精确的相位解包裹结果。文中算法采用包裹相位的二阶微分作为残差检测原理的补充参数，将包裹相位二阶微分中的突变点视为无极性残差点，并利用调制度作为残差点有效性的判断依据将低调制度的残差点视为具有更高的有效性进行局部优化以降低残差点的密度，优化后的等效残差点连接成枝切线以阻挡误差传播。文中算法采用调制度计算像素点的质量以引导相位解包裹的顺序，解包裹路径绕开枝切线的同时优先展开高质量区域的像素点。实验结果表明，文中算法的相位解包裹结果具有更高的准确性和竞争力。
- 出版日期2023
- 单位昆明理工大学
