针对HgCdTe列车轴温探测器,通过测量不同温度下其噪声功率谱的变化,研究了温度对器件噪声的影响。实验结果表明:在-30~20℃范围内,当温度降低时,探测器噪声显著增加,最大增幅分别达到2.7倍(偏流为1 mA时)和3.6倍(偏流为2 mA时)。经过理论分析发现,探测器热噪声对总噪声的贡献很小,温度变化的主要影响是器件的产生—复合噪声和1/f噪声。
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