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摘要
采用溅射氧化耦合法,在Al2O3基底上成功实现了对VO2薄膜的Ti元素掺杂.通过光电子能谱(XPS)的分析,试验制备的VO2薄膜具有较高的纯度,只含有少量+3价V,同时也对Ti元素的含量进行了定量分析,分析结果证明了试验设计的合理性.通过测量VO2薄膜在不同温度下的方块电阻,绘出了其电阻-温度曲线,并分析得到了Ti不同掺杂含量下的相变温度与回滞宽度.研究结果表明,Ti掺杂对VO2薄膜的相变温度没有明显的影响,但可以有效地使VO2薄膜的回滞宽度变窄,甚至接近于单晶VO2的回滞宽度.该试验对于VO2薄膜的开关器件应用具有重要意义.
- 出版日期2016
- 单位东华大学
