地质样品中Te的分析方法研究

作者：季海冰; 潘荷芳; 黄苇

来源：环境污染与防治, 2010, (09): 68-72.

DOI：10.15985/j.cnki.1001-3865.2010.09.001

• Te
• 样品前处理
• 氢化物发生
• 原子荧光
• 电感耦合等离子体质谱
• 干扰
• 地质样品 tellurium
• the pretreatment method
• hydride generation
• atomic fluorescence spectrometry
• inductively coupled plasma-mass spectrometry
• interference
• geological samples

Te是发展高科技产业不可缺少的半导体材料之一,被广泛应用于冶金、石油化工、电子电气、玻璃陶瓷和医药等行业。同时,Te又是一种潜在的环境污染元素。Te在地壳中含量低而分散,寻找高灵敏度的地质样品中Te的检测分析方法一直是人们关注的问题。重铬酸钾容量法、碘量法、极谱法、分光光度法等常见测Te方法灵敏度不够理想,操作步骤也较繁琐。评述了1995—2009年地质样品中Te的检测方法概况及其发展趋势,重点对样品的前处理方法、氢化物发生/原子荧光法和电感耦合等离子体质谱法的优缺点进行了阐述和讨论,指出利用高能效的分离技术达到各形态的有效分离和利用选择性强、灵敏度高的元素特征检测器来达到超痕量形态的测定仍将...

• 出版日期2010
• 单位浙江省环境保护科学设计研究院; 浙江省环境监测中心