自动测试设备ATE中异步测试周期的自适应计算方法

作者：梁**; 潘宇琦; 宋钛; 鲁迎春; 黄正峰; 蒋翠云; 侯旺超; 万金磊

来源：2019-04-16, 中国, ZL201910305733.9.

本发明公开了一种自动测试设备ATE中异步测试周期的自适应计算方法,其步骤包括：1.由仿真电路自适应计算ATE所需设置异步测试周期的总流程；2.利用历史数据建立数据库与待测试的电路模型对比的结果,优化测试周期计算的时间；3.根据可选测试周期的个数,自主选择贪心算法或Kth-Root算法高效计算测试周期；4.利用反馈机制自适应调节模型比较阈值A。本发明能在计算最佳ATE所需设置的异步测试周期的准确度和计算时间之间取到良好的折衷方案,从而能减少ATE的测试时间,降低集成电路的测试成本。

• 出版日期2019-4-16
• 单位合肥工业大学