PbS红外探测器低频噪声物理模型及缺陷表征研究

作者：陈文豪; 杜磊; 殷雪松; 康莉; 王芳; 陈松

来源：Acta Physica Sinica, 2011, (10): 573-578.

• 红外探测器
• 1/f噪声
• g-r噪声
• 缺陷 infrared detector
• 1/f noise
• g-r noise
• defect

为了表征PbS薄膜光导红外探测器的材料缺陷,详细推导了1/f和产生-复合(g-r)噪声物理模型,并由实验数据验证了模型的准确性.利用1/f噪声与表面缺陷关系,计算了不同偏压下表面陷阱密度.得到该值随偏压升高而增加,由此得出1/f噪声与所加偏压成正比变化,与实验测试结果相一致.在此模型基础上,研究了g-r噪声与深能级缺陷特征参量的关系,提出由低频噪声表征缺陷激活能、简并因子、俘获截面等缺陷参数的方法.

• 出版日期2011
• 单位西安电子科技大学; 陕西华星电子集团有限公司